Escala electrónica
para sistema de medición de longitud
El estándar en la industria gráfica
Escala electrónicaEl uso de la escala electrónica simplifica las mediciones de longitud. La guía de acero inoxidable endurecido tiene una tira inductiva. Esta informa al sistema electrónico sobre la posición momentánea del carro de medida guiado sobre cojinetes esféricos longitudinales sin huelgo ni desgaste. El sistema óptico revestido con cuatro lentes y factor de aumento 10x permite desplazarse con precisión hasta el punto de medición. La lupa tiene un enfoque de precisión para el ajuste a su corrección específica. Escala electrónicaLa lupa está equipada con una placa reticulada para la colocación exacta del carro de medida. Las graduaciones de esta placa, vaporizadas en cromo duro, contribuyen a la precisión de la lectura. Un ingenioso control de paralaje asegura que el ángulo de visión sea perpendicular a la lente. Esta pantalla de fácil lectura con caracteres de seis milímetros de altura muestra la resolución máxima de 0,10 milímetros ó 0.0005 pulgadas. Junto a la pantalla se encuentra el dispositivo de ajuste de precisión. El tornillo de sujeción vertical mantiene fija una parte del carro de medida. El tornillo de posicionamiento horizontal desplaza el carro de forma precisa hasta el punto de medición. A continuación, el punto cero de la medición puede determinarse pulsando el botón de reinicio. Escala electrónicaDespués de mover el carro al segundo punto de medición, el resultado puede leerse en la pantalla. El sistema cuenta con una interfaz RS232. Esto permite la transferencia serial de los valores al ordenador. Para la transferencia de datos debe disponerse de un cable de interfaz compatible con RS232 con acoplamiento óptico o, como alternativa, un sistema de transferencia de radio.

Escala electrónicaLa presentación de los datos en el ordenador se realiza mediante el software opcional en Excel. Las dos guías de posicionamiento laterales facilitan la orientación rápida y la alineación paralela de la escala con el objeto a medir. Variedad de modelos: Siete longitudes de medición disponibles de 180 a 1500 milímetros. Tres tipos de placas reticuladas y varios sistemas ópticos completan la gama. Además de la placa reticulada mencionada anteriormente, la escala de PCB puede utilizarse exclusivamente para medir intervalos de agujero. Escala electrónicaPara la escala PCB siempre es necesario usar una lupa estándar 10 x (versión ES). Si también se va a usar un microscopio para la determinación particularmente exacta del punto de medición, se puede girar el adaptador del microscopio para que el haz de luz pase por el punto libre de la escala. Razón: Los microscopios 25x y 50x, disponibles como accesorios, tienen su propia escala con graduaciones y cruces reticulares, que se intersectan con la escala PCB. Escala electrónicaSi se sabe que se requiere un posicionamiento muy exacto, desde el principio debe utilizarse la versión ESM con microscopio x 25 ó 50. Escala electrónicaLa escala electrónica puede pedirse con un sistema de vídeo para mediciones en serie. La versión ES incluso se puede equipar con la cámara de vídeo USB. Para mover los puntos de medida ya no es necesario adoptar una posición de inclinación sobre el microscopio, evitando así forzar la espalda y los ojos. A continuación, es posible moverse hasta los puntos de medición usando la placa reticulada o las funciones de referencia del software de medición. Las opciones disponibles son cruces reticulares dobles o simples, círculos de tolerancia, máscaras multi-forma y marcas de registro. Las mediciones individuales en el campo de visión de la cámara pueden hacerse con las funciones de medición métrica normales. Escala electrónicaPueden determinarse, por ejemplo, radios, ángulos, diámetros, superficies y distancias. Escala electrónicaEsto permite la recopilación de documentación de medición completa en combinación con los datos procedentes de la interfaz RS232. En ordenadores más antiguos, la escala electrónica puede equiparse también con una cámara CCD y una placa de captura de imágenes. Para el uso de una cámara analógica con un monitor de vídeo sin PC.

Los datos  
Longitudes estándar disponibles 180 mm/7 pulgadas
  300 mm / 12 pulgadas
  500 mm/20 pulgadas
  800 mm/32 pulgadas
  1000 mm/40 pulgadas
  1300 mm / 52 pulgadas
  1500 mm / 60 pulgadas
Resolución 0,01 mm/0.0005 pulgadas
Precisión de repetición 0,01 mm.
Ancho de banda de error hasta 500 mm = 0,03 mm
  hasta 800 mm = 0,04 mm
  hasta 1000 mm = 0,05 mm
  hasta 1300 mm = 0,10 mm
  hasta 1500 mm = 0,15 mm
Pantalla LCD, batería de litio de 3V, durabilidad aprox. 4000 h
Rango de temperatura: + 10 a + 40 ° C
Interfaz compatible RS232
Placa reticulada: Estándar o PCB
Sistemas opc. Lupa tipo ES 10x
  Microscopio tipo ESM-25 25x
  Microscopio tipo ESM-50 50x
Cable de datos OPTO-USB-0 para Electronic Scale

Electronic-Scale El cable de datos que utilizamos es al mismo tiempo una interfaz de teclado USB y un cable de equipo de medición. La energía se suministra a través de la interfaz USB. No se necesita ningún archivo de controlador para la interfaz USB. La interfaz USB se identifica como un teclado. Los caracteres de terminación como "Enter" o "Tab", etc., pueden configurarse en la interfaz USB y se envían automáticamente junto con el mensaje. Se pueden configurar otros ajustes como el idioma, el separador y el temporizador. Botón de datos en el dispositivo de medición para la transmisión de datos o para el temporizador. El cable de datos se puede usar para Windows 10 y es compatible con versiones inferiores.
Nº de pedido Descripción Precio
excl. IVA
ES-180-10 Longitud de medición 180 mm con lupa 10x 2.400,00 €
ES-300-10 Longitud de medición 300 mm con lupa 10x 2.600,00 €
ES-500-10 Longitud de medición 500 mm con lupa 10x 2.900,00 €
ES-800-10 Longitud de medición 800 mm con lupa 10x 3.940,00 €
ES-1000-10 Longitud de medición 1000 mm con lupa 10x 4.670,00 €
ES-1300-10 Longitud de medición 1300 mm con lupa 10x 6.420,00 €
ES-1500-10 Longitud de medición 1500 mm con lupa 10x 7.850,00 €
 
ESM-180-25 Longitud de medición 180 mm con microscopio 25x 2.570,00 €
ESM-300-25 Longitud de medición 300 mm con microscopio 25x 2.770,00 €
ESM-500-25 Longitud de medición 500 mm con microscopio 25x 3.070,00 €
ESM-800-25 Longitud de medición 800 mm con microscopio 25x 4.110,00 €
ESM-1000-25 Longitud de medición 1000 mm con microscopio 25x 4.840,00 €
ESM-1300-25 Longitud de medición 1300 mm con microscopio 25x 6.410,00 €
ESM-1500-25 Longitud de medición 1500 mm con microscopio 25x 8.020,00 €
 
ESM-180-50 Longitud de medición 180 mm con microscopio 50x 2.600,00 €
ESM-300-50 Longitud de medición 300 mm con microscopio 50x 2.800,00 €
ESM-500-50 Longitud de medición 500 mm con microscopio 50x 3.100,00 €
ESM-800-50 Longitud de medición 800 mm con microscopio 50x 4.140,00 €
ESM-1000-50 Longitud de medición 1000 mm con microscopio 50x 4.870,00 €
ESM-1300-50 Longitud de medición 1300 mm con microscopio 50x 6.440,00 €
ESM-1500-50 Longitud de medición 1500 mm con microscopio 50x 8.050,00 €
 
ES-ADP Adaptador para microscopios en combinación con modelos ES 95,00 €
ES-2008-25 microscopio 25x, modelo sin holgura para combinación con ES 460,00 €
ES-2008-50 microscopio 50x, modelo sin holgura para combinación con ES 480,00 €
ES-KF-2008 Base acrílica de recambio para microscopio ES-2008 20,00 €
ES-ELM Luz auxiliar para la versión ES 155,00 €
ES-USB Sistema de cámara USB para montaje en modelos ES con Metric BE, cámara a color USB 2.0 - 1280 x 1024 píxeles 1.550,00 €
ES-OPTO-USB-0 Cable óptico USB y software para la exportación a Excel,
para la interfaz USB		 315,00 €
ES-Enavit Spray de cuidado y limpieza para escala electrónica 24,00 €
ES-FM bajo demanda  
 
Entrega: Embalaje incl., véase cargos de flete aquí
Pago: 30 días, netos
Medición con la scala electrónica (abreviatura: ES)
Los resultados de la medición pueden verse afectados por los más diversos factores. Por ello, y a fin de garantizar una medición precisa, por una parte deberán cumplirse ciertos requisitos técnicos, y por otra parte deberá disponerse de los conocimientos suficientes y las condiciones adecuadas para que los resultados obtenidos también se interpreten de forma correcta.
Factores que influyen:
— Propiedades físicas y precisión de la regla / dispositivo de medición
— Zona de medición (la imprecisión aumenta con el tamaño de la zona, como regla general no linealmente pero (en cierta medida) exponencialmente)
— Configuración de medición (planaridad del soporte de medición, errores de paralaje, principio del comparador de Abbe, etc…)
— Entorno térmico:
  • Temperatura (temperatura ambiente, calor radiante procedente del sistema de iluminación, la temperatura corporal del operador al tocar, etc.)
  • humedad (por ejemplo, en papel o láminas de plástico)
  • grado / período de aclimatación
— Propiedades físicas de la pieza a comprobar (coeficientes de contracción y expansión, etc.)
— Definición del borde del objeto de medición
— Comprobador / usuario (conocimientos, experiencia y susceptibilidad (visual))

1. Precisión de los instrumentos de medición con pantalla digital

Con instrumentos de medición con pantallas digitales, cabe destacar que por norma general el valor mostrado no se corresponde con el resultado de medición real. Esto es porque, por un lado, se redondean los valores intermedios (significación más allá del último dígito mostrado), y por el otro, la pantalla no toma en cuenta cualquier imprecisión del instrumento o cualquier influencia causada por el personal operativo.
Como regla general, los fabricantes indican límites de tolerancia para la imprecisión del instrumento, dentro de los cuales debe encontrarse la desviación a partir de la medición real.

Ejemplo para un instrumento de medición electrónico con precisión garantizada de ± 0,05 mm:
  valor mostrado en la pantalla = 347,12 mm
la medición real puede ser cualquier valor
entre 347,07 y 347,17 mm
La "precisión de repetición" y la "resolución" a menudo se confunden con la "precisión" de medición real de un instrumento. Sin embargo, los tres términos tienen significados completamente diferentes. La "precisión de repetición" indica cuán grande es la variación si la misma medición se mide varias veces. Por otra parte, la "resolución" es la exactitud de la pantalla y determina el sub-paso más pequeño que se muestra en la pantalla (p. ej. 0,01 mm en la ES; los valores intermedios se redondean)

2. Precisión de la ESCALA ELECTRÓNICA

Factores que influyen en la precisión instrumental de una regla (p. ej. ES):
•
Construcción (geometría de la varilla, coordinación de las piezas, rango de medición, consideración de principios básicos metrológicos como el principio del comparador de Abbe, paralaje, etc.)
• Sistema óptico
• Sistema electrónico (como un elemento de trazado)
(en la ES: ± 0,01 mm)
• Precisión de la escala del condensador (elemento de impulso)
No existen dispositivos de medición absolutamente precisos. Incluso la ESCALA ELECTRÓNICA tiene deficiencias. Los márgenes de error de estas imprecisiones son, según el fabricante:
ES 180 : 0.03 mm
ES 300 : 0.03 mm
ES 500 : 0.03 mm
ES 800 : 0.04 mm
ES 1000 : 0.05 mm
ES 1300 : 0.08 mm
ES 1500 : 0.10 mm
Esta información no debe entenderse como indicaciones de más / menos, sino que corresponden respectivamente a los "márgenes de error" totales. Por ejemplo en el modelo ES 800 todas las imprecisiones deben estar dentro de un margen de 0,04 mm máx. En la práctica esto significa para el ejemplo del modelo ES 800 que todas las desviaciones encontradas durante la prueba deben estar dentro de un rango 

de -0.04 mm a ±0.00 mm (caso extremo más bajo)
ó de -0.03 mm a +0.01 mm
ó de -0.02 mm a +0.02 mm
ó de -0.01 mm a +0.03 mm
ó de ±0.00 mm a +0.04 mm (caso extremo más alto)
Para que el usuario sepa en qué rango de tolerancia funcionan sus instrumentos, cada ES viene con un certificado de prueba. Sin embargo al mismo tiempo hay que recordar que los valores de medición dados sólo muestran la tendencia y no pueden usarse como valores de corrección absolutos, ya que el cero absoluto se puede fijar arbitrariamente en la ES.

3. Configuración de la medición

Aparecerán imprecisiones de medición si la muestra de prueba y / o el dispositivo de prueba se curvan. Es necesaria una buena base para obtener resultados de medición precisos. Tanto si se trata de una tabla de estructura u otra placa de medición, no debe doblarse bajo ningún concepto. La planaridad afecta directamente el resultado.


4. Temperatura

El efecto de la temperatura (así como de la humedad, ver detalles en párrafo 5) en la práctica no se tiene en cuenta nunca o casi nunca. La característica que tienen ciertos materiales de expandirse varios grados en caso de alteraciones en la temperatura, puede llevar a interpretaciones erróneas de los resultados de la medición.

El siguiente ejemplo ilustra este problema:
Objeto de medición / muestra de prueba:   Película Mylar®
Instrumento de medición:   ES 1000 (fabricado en acero Cr/Ni)
Temperatura del objeto de medición:   30 °C (tabla de estructura)
Temperatura de la regla:   20 °C
Sección a medir:   1000 mm

La siguiente fórmula se aplica a la dilatación térmica:
ΔL = L x AKT x ΔT donde ΔL:   alargamiento
L:   longitud
AKT:   coeficiente de dilatación térmica α
ΔT:   diferencia de temperatura

El coeficiente de dilatación térmica α del poliéster es: 27 x 10-6 / °C.
Por lo tanto, la elongación resultante para la película (a 1.000 mm con una diferencia de temperatura de 10 °C) es la siguiente: 

  ΔL = L x AKT x ΔT = 1000 mm x 27 x 10-6 / °C x 10°C = 0.27 mm
El error se reduce si la regla tiene la misma temperatura que la película (dilatación térmica del acero Cr/Ni: 11.5 x 10-6 / °C). El aumento de la longitud de la ES en nuestro ejemplo es:
  ΔL = L x AKT x ΔT = 1000 mm x 11.5 x 10-6 / °C x 10°C = 0.115 mm
Ya que una regla que es demasiado larga mide demasiado corto, el valor determinado anteriormente para la película de poliéster se corrige en 0,115 mm. 


Por lo tanto, el error de medición resultante es:
0.27 mm – 0.115 mm = 0.155 mm.

Este ejemplo muestra claramente el efecto de la temperatura y lo importante que es conocer las temperaturas reales, pero también las propiedades físicas de la muestra de prueba y de los equipos de medición. Si la muestra de prueba y la regla se colocan sobre una tabla de estructura caliente, la película (muestra de prueba) rápidamente absorbe el calor, mientras que la absorción de calor de la regla de acero (equipo de medición) tarda un poco más. Por norma general, durante este tiempo de adaptación no se conocen las temperaturas exactas y no se sabe realmente hasta qué punto se han adaptado ya la muestra de prueba y el equipo de medición. ¡Durante este tiempo no es posible tomar mediciones exactas! (ver también ➠ aclimatación).

Ejemplos numéricos de expansión en relación al material,
la temperatura y la longitud:
a) Expansión del acero Cr/Ni (coeficiente térmico de expansión AKT = 11.5 x 10-6 / °C)
Diferencia de temperatura Longitud de medición / longitud de elongación (todas las medidas en mm)
100 200 300 400 500 1000
1° C 0.00115 0.00230 0.00345 0.00460 0.00575 0.01150
2° C 0.00230 0.00460 0.00690 0.00920 0.01150 0.02300
3° C 0.00345 0.00690 0.01380 0.01840 0.02300 0.03450
4° C 0.00460 0.00920 0.01380 0.01840 0.02300 0.04600
5° C 0.00575 0.01150 0.01725 0.02300 0.02875 0.05750
 
b) Expansión del cristal (coeficiente térmico de expansión AKT = 9.0 x 10-6 / °C)
Diferencia de temperatura Longitud de medición / longitud de elongación (todas las medidas en mm)
100 200 300 400 500 1000
1° C 0.00090 0.00180 0.00270 0.00360 0.00450 0.00900
2° C 0.00180 0.00360 0.00540 0.00720 0.00900 0.01800
3° C 0.00270 0.00540 0.00810 0.01080 0.01350 0.02700
4° C 0.00360 0.00720 0.01080 0.01440 0.01800 0.03600
5° C 0.00450 0.00900 0.01350 0.01800 0.02250 0.04500
 
c) Diferencia de expansión entre el cristal y el acero Cr/Ni
Diferencia de temperatura Longitud de medición / longitud de elongación (todas las medidas en mm)
100 200 300 400 500 1000
1° C 0.00025 0.00050 0.00075 0.00100 0.00125 0.00250
2° C 0.00050 0.00100 0.00150 0.00200 0.00250 0.00500
3° C 0.00075 0.00150 0.00225 0.00300 0.00375 0.00750
4° C 0.00100 0.00200 0.00300 0.00400 0.00500 0.00600
5° C 0.00125 0.00250 0.00375 0.00500 0.00625 0.01250
             
Nota: Los coeficientes de expansión que se muestran son meros ejemplos y no son válidos para todos los tipos

5. Humedad

La humedad no causa ninguna alteración de longitud en la ESCALA ELECTRÓNICA. Sin embargo puede tener un efecto en el objeto de medición, como p. ej. en la muestra de prueba del ejemplo anterior (película de poliéster). 
 La siguiente fórmula se aplica para la expansión a través de la absorción de humedad:
ΔL = L x AKF x ΔT donde ΔL:   alargamiento
L:   longitud
AKF:   coeficiente de expansión por humedad
ΔT:   diferencia de temperatura
El coeficiente de expansión por humedad del poliéster es: 12 x 10-6 / %RF (humedad relativa).
Para la película, esto resulta en una alteración de la longitud (a 1.000 mm con una modificación de la RF del 10%):

  ΔL = L x AKF x ΔT = 1000 mm x 12 x 10-6 / %RF x 10 %RF = 0.12 mm

Atención: la absorción y entrega de agua son procesos prolongados que, dependiendo de las propiedades del objeto, a menudo pueden tardar varios días.

➠ Aclimatación: Dado que la temperatura y la humedad influyen en gran medida en la precisión, es extremadamente importante dar al material de prueba y al equipo de medición tiempo suficiente para adaptarse a las condiciones predominantes. Si la aclimatación es totalmente completa, los efectos de la temperatura y la humedad (siempre que se conozcan los correspondientes coeficientes) pueden compensarse aritméticamente o calcularse para equilibrarse fácilmente aplicando las fórmulas anteriores. Sin embargo, si la aclimatación está en curso (p. ej. con la película plástica después de 24 ó 48 horas), entonces no se sabe exactamente cuánto ha progresado esto, o en qué medida la muestra de prueba todavía está siendo modificada. Por lo tanto, no será posible realizar la compensación aritmética ni una medición segura.

Ejemplos numéricos de desviación de medición de una película de poliéster en relación a la temperatura y la longitud, y la humedad relativa y la longitud:
A) Desviación de medición con cambio de temperatura: (coeficiente térmico de expansión AKT = 27 x 10-6 / °C)
Diferencia de temperatura Longitud de medición / longitud de elongación (todas las medidas en mm)
100 200 300 400 500 1000
1° C 0.0027 0.0054 0.0081 0.0108 0.0135 0.0270
2° C 0.0054 0.0108 0.0162 0.0216 0.0270 0.0540
3° C 0.0081 0.0162 0.0243 0.0324 0.0405 0.0810
4° C 0.0108 0.0216 0.0324 0.0432 0.0540 0.1080
5° C 0.0135 0.0270 0.0405 0.0540 0.0675 0.1350
6° C 0.0132 0.0324 0.0486 0.0648 0.0810 0.1620
7° C 0.0189 0.0378 0.0567 0.0756 0.0945 0.1890
8° C 0.0216 0.0432 0.0648 0.0864 0.1080 0.2160
9° C 0.0243 0.0486 0.0729 0.0972 0.1215 0.2430
10° C 0.0270 0.0540 0.0810 0.1080 0.1350 0.2700
 
B) Desviación de medición con cambio de humedad: (coeficiente térmico de expansión
AKF = 12 x 10-6 / °C)
Diferencia
%RF		 Longitud de medición / longitud de elongación (todas las medidas en mm)
100 200 300 400 500 1000
1° C 0.0012 0.0024 0.0036 0.0048 0.0060 0.0120
2° C 0.0024 0.0048 0.0072 0.0096 0.0120 0.0240
3° C 0.0036 0.0072 0.0108 0.0144 0.0180 0.0360
4° C 0.0048 0.0096 0.0144 0.0192 0.0240 0.0480
5° C 0.0060 0.0120 0.0180 0.0240 0.0300 0.0600
6° C 0.0072 0.0144 0.0216 0.0288 0.0360 0.0720
7° C 0.0084 0.0168 0.0252 0.0336 0.0420 0.0840
8° C 0.0096 0.0192 0.0288 0.0384 0.0480 0.0960
9° C 0.0108 0.0216 0.0324 0.0432 0.0540 0.1080
10° C 0.0120 0.0240 0.0360 0.0480 0.0600 0.1200
             
Nota: Los coeficientes de expansión que se muestran son meros ejemplos y no son válidos para todos los tipos

¿Lente de aumento o microscopio?

Con la ESCALA ELECTRÓNICA pueden seleccionarse diferentes elementos ópticos como ayuda en la localización de las líneas de medición. Por una parte, una lente de aumento de 10x, y por otra un microscopio adaptado específicamente para este uso con un aumento de 25x ó 50x.

La lente de precisión utilizada en el modelo estándar tiene las ventajas de un mayor campo de visión y una pantalla de imagen correcta lateralmente. Desafortunadamente tiene el gran inconveniente del llamado paralaje.

6. Paralaje

Si hay un espacio entre las líneas en la placa reticulada del equipo de medición y las líneas del objeto de medición, se producirá un error de medición si la vista sobre la lente de aumento no es exactamente vertical.

view ok view not ok
El error de medición aumenta con la distancia entre la marca de medición en la placa reticulada y la línea que se medirá en el material de prueba y con la desviación angular del eje de visualización respecto a la vertical.
correcto incorrecto  

La «comprobación de paralaje» de la ESCALA ELECTRÓNICA permite al usuario comprobar el ángulo de visión.
La persona que está mirando las marcas de medición lo hace verticalmente sólo cuando los campos que están uno encima de otro están correctamente alineados. Cuando se usa correctamente, la imagen de la sofisticada placa reticulada de la ES ayuda a mantener reducida la variabilidad de la interpretación individual y a reducir al mínimo la incertidumbre y la variación de los resultados de medición entre diferentes comprobadores. 


En sistemas ópticos con varias lentes, como un microscopio, el eje óptico lo da el sistema de lentes. Es por ello que no es posible mirar torcido por la lente (como ocurre con la lente de aumento) y no se producen errores de paralaje. Esto, junto con un mayor aumento, son las principales ventajas del microscopio. Las desventajas de un microscopio son el campo de visión más pequeño y la inversión de la imagen visualizada. Lo que aparece en la parte superior está en la parte inferior; lo que aparece a la izquierda está a la derecha. Cuando se trabaja con un microscopio, al principio es un poco confuso. Sin embargo, por norma general el usuario se acostumbra rápidamente.

7. Sensibilidad visual del comprobador

¡Con la práctica se llega a la perfección! - Mediante el trabajo repetido o regular, el ojo se va entrenando y la sensibilidad visual del comprobador va mejorando. El usuario aprende a leer la imagen más rápido y mejor y a interpretarla con más seguridad.

Factores que influyen en los resultados de medición

Factores influyentes a nivel general:
— Propiedades físicas y precisión de la regla / dispositivo de medición
— Zona de medición (la imprecisión aumenta con el tamaño de la zona, como regla general no linealmente pero (en cierta medida) exponencialmente)
— Configuración de medición (planaridad del soporte de medición, errores de paralaje, principio del comparador de Abbe, etc…)
— Entorno térmico:
  • Temperatura (temperatura ambiente, calor radiante procedente del sistema de iluminación, la temperatura corporal del operador al tocar, etc.)
  • humedad (por ejemplo, en papel o láminas de plástico)
  • grado / período de aclimatación
— Propiedades físicas de la pieza a comprobar (coeficientes de contracción y expansión, etc.)
— Definición del borde del objeto de medición
— Comprobador / usuario
(conocimientos, experiencia y susceptibilidad (visual))
Factores que afectan la precisión de una ESCALA ELECTRÓNICA
o regla similar:
•
Construcción (geometría de la varilla, precisión de fabricación, coordinación de las piezas, propiedades físicas de los materiales utilizados, rango de medición, consideración de principios básicos metrológicos como el principio del comparador de Abbe, paralaje, etc.)
• Sistema óptico
• Sistema electrónico (como elemento de trazado) (en la ES: +/- 0,01 mm)
• Precisión de la escala del condensador (elemento de impulso)
Manual de la escala electrónica Medición con escala electrónica -
 Factores que influyen en las mediciones.
( 1.499 MB, 18.06.2015, PDF)
changing a scale Cambio de placa reticulada
Información importante para cambiar una placa reticulada en una regla electrónica E-Scale ES o al convertir la versión ESM en ES
( 0.169 MB, 14.06.2021, PDF)
Utilización de Enavit Utilización de "Enavit n"
( 0.134 MB, 14.06.2021, PDF)
 
© KITOTEC GmbH — 2022
 
volver a sistemas de medición de longitud
Protección de datos